PICE Soild State Disk Intelligent Testing System Haida HD-4-NVME

PICE Soild State Disk Intelligent Testing System Haida HD-4-NVME

PICE Solid State Disk Intelligent Testing System | Sistem Pengujian Cerdas Solid State Disk (SSD) PCIe Haida HD-4-NVME

 

PCIe Solid State Disk Intelligent Testing System adalah sistem pengujian yang digunakan untuk mengevaluasi fungsi, performa, stabilitas, dan keandalan SSD dengan antarmuka PCIe. Sistem ini dapat digunakan untuk memeriksa berbagai parameter seperti kapasitas, kecepatan baca/tulis, kestabilan operasi, kesehatan media penyimpanan, serta karakteristik kinerja SSD. Dengan sistem pengujian yang terintegrasi dan cerdas, proses pemeriksaan dapat dilakukan secara efisien dan konsisten, sehingga cocok untuk reliability testing, quality control, inspeksi produk, serta diagnosis SSD pada industri elektronik dan semikonduktor.

PICE Soild State Disk Intelligent Testing System

 

PICE Solid State Disk Intelligent Testing System adalah sistem pengujian cerdas yang digunakan untuk mengevaluasi kinerja, stabilitas, dan keandalan Solid State Drive (SSD) berbasis antarmuka PCIe. Sistem ini dirancang untuk melakukan pengujian terhadap berbagai parameter SSD, seperti kecepatan baca/tulis, stabilitas transfer data, respons perangkat, serta kemampuan operasi dalam kondisi pengujian tertentu.

Dilengkapi dengan modul komunikasi dan pengujian PCIe, perangkat akuisisi data, sistem kontrol, serta perangkat lunak pengujian dan analisis otomatis, PICE Solid State Disk Intelligent Testing System mampu menghasilkan hasil pengujian yang cepat, akurat, konsisten, dan dapat diulang. Alat ini banyak digunakan dalam industri penyimpanan data, manufaktur SSD, semikonduktor, elektronik, laboratorium kontrol kualitas, R&D, dan pengujian produk untuk memastikan SSD memenuhi spesifikasi kinerja dan keandalan yang ditetapkan.

 

PICE Soild State Disk Intelligent Testing System 1

 

Features

 

  • Mendukung pengujian produk PCIe.

  • Mendukung kustomisasi jumlah unit PCIe untuk mass production testing, seperti 96, 124, 196, hingga 256 unit.

  • Mendukung pengembangan sistem micro & miniature testing dengan konfigurasi 4, 8, 12 unit, dan lainnya.

  • Mendukung pengujian pada rentang suhu −70°C hingga +180°C.

  • Mendukung abnormal power failure test dan aging test.

  • Mendukung automatic temperature control testing.

  • Mendukung intelligent software control untuk seluruh proses pengujian.

  • Mendukung kustomisasi software pengujian sesuai kebutuhan pengguna.

  • Mendukung pemerataan kecepatan aliran udara dan distribusi suhu di dalam chamber.

  • Mendukung rapid temperature rise and fall control untuk mempercepat proses pengujian.

  • Mendukung pengembangan dan kustomisasi PCIe aging test.

  • Mendukung network remote control, sehingga pengujian dapat dikontrol dari lokasi berbeda dan hasil pengujian dapat dipantau secara remote.

  • Mendukung APP remote control untuk mengoperasikan dan memantau pengujian dari jarak jauh.

No Telp / WhatsApp : 0812 1248 2471
Email : rusditeknikindo@gmail.com

Produk Terkait

Keranjang Belanja

Need help? Our team is just a message away