64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber Haida HD-64-NVME

64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber Haida HD-64-NVME

64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber = Chamber Penuaan Dipercepat Suhu Tinggi dan Rendah untuk 64 Chip Haida HD-64-NVME

 

64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber adalah chamber pengujian yang digunakan untuk melakukan uji penuaan dipercepat pada hingga 64 chip elektronik dalam kondisi suhu tinggi dan rendah yang terkontrol. Peralatan ini dirancang untuk mensimulasikan lingkungan ekstrem guna mengevaluasi keandalan, stabilitas, dan ketahanan chip terhadap perubahan temperatur selama periode pengujian tertentu. Dengan kemampuan menguji banyak sampel secara bersamaan, chamber ini membantu meningkatkan efisiensi proses reliability testing, aging test, burn-in test, serta kontrol kualitas pada industri semikonduktor dan elektronik.

64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber

 

64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber adalah ruang pengujian yang digunakan untuk melakukan pengujian penuaan dipercepat (accelerated aging) pada komponen atau chip elektronik dengan kondisi suhu tinggi dan rendah secara terkontrol. Sistem ini dirancang untuk menguji hingga 64 chip secara bersamaan guna mengevaluasi keandalan, stabilitas, dan daya tahan komponen terhadap perubahan suhu ekstrem selama masa operasional maupun penyimpanan.

Dilengkapi dengan sistem pemanasan dan pendinginan presisi, ruang pengujian berkapasitas 64 sampel, sensor suhu berakurasi tinggi, serta perangkat kontrol dan pencatatan data otomatis, 64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber mampu menghasilkan kondisi pengujian yang stabil, akurat, dan dapat diulang. Alat ini banyak digunakan dalam industri semikonduktor, elektronik, SSD, laboratorium kontrol kualitas, dan pusat penelitian untuk mengevaluasi umur pakai serta keandalan chip sesuai standar pengujian industri yang berlaku.

 

64 Pieces Chip High and Low Temperature Accelerated Aging Chamber 1

 

Features

 

  • Mendukung kustomisasi jumlah chip PCIe untuk pengujian, seperti 32, 36, 64, 96, 156, hingga 216 chip.

  • Mendukung pengembangan sistem micro-miniature testing dengan kapasitas seperti 4 dan 8 chip.

  • Mendukung pengujian pada rentang suhu −70°C hingga +180°C.

  • Mendukung abnormal power failure test dan aging test.

  • Mendukung automatic temperature control testing.

  • Mendukung pengoperasian dan kontrol pengujian secara intelligent melalui software.

  • Mendukung kustomisasi software pengujian sesuai kebutuhan pengguna.

  • Mendukung keseimbangan kecepatan aliran udara dan temperatur di dalam chamber.

  • Mendukung rapid heating dan cooling control.

  • Mendukung pengembangan dan kustomisasi PCIe aging test.

  • Mendukung network remote control, sehingga pengujian dan hasilnya dapat dipantau dari lokasi berbeda.

  • Mendukung APP remote control untuk pengoperasian dan pemantauan pengujian dari jarak jauh.

No Telp / WhatsApp : 0812 1248 2471
Email : rusditeknikindo@gmail.com

Produk Terkait

Keranjang Belanja

Need help? Our team is just a message away