Portable Flash Memory Chip Intelligent Test System
Portable Flash Memory Chip Intelligent Test System adalah sistem pengujian portabel yang digunakan untuk mengevaluasi kinerja, stabilitas, dan keandalan flash memory chip secara praktis dan terkontrol. Sistem ini dirancang untuk melakukan berbagai pengujian terhadap chip memori, seperti kemampuan membaca dan menulis data, stabilitas operasi, serta respons perangkat dalam kondisi pengujian tertentu.
Dilengkapi dengan modul pengujian chip, sistem komunikasi dan akuisisi data, perangkat kontrol portabel, serta perangkat lunak pengujian dan analisis, Portable Flash Memory Chip Intelligent Test System mampu melakukan pengujian secara cepat, akurat, fleksibel, dan dapat diulang. Alat ini banyak digunakan dalam industri semikonduktor, flash memory, SSD, perangkat penyimpanan data, laboratorium kontrol kualitas, R&D, dan pengujian produk untuk mengevaluasi performa serta keandalan chip memori.
Technical Specifications
Physical Properties
| Parameter | Spesifikasi |
|---|---|
| Equipment Size | W400 × H510 × D520 mm |
| Power Supply | AC |
| Operating Voltage | AC 220 ± 10 V, single-phase 2-wire + protective earth |
| Normal Working Power Consumption | 2 kW |
| Operating Temperature Range | −30°C hingga +150°C |
| Storage Temperature Range | −20°C hingga +60°C |
| Operating Humidity Range | 45%–75% RH |
System Performance
| Parameter | Spesifikasi |
|---|---|
| Parallel Testing Capacity | 1–8 pcs |
| Supported Flash Types | SLC, MLC, TLC, QLC NAND Flash |
| Supported Flash Brands | Micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, SanDisk, dan lainnya |
| Supported Package Sizes | BGA152, BGA132, dengan opsi custom extension |
| Supported Flash Protocol | ONFI / Toggle Interface |
| Supported Voltage | V1.2, V1.8 (optional) |
| VCC Voltage Adjustment | 2.3–3.6 V, software adjustable |
| VCCQ 1.2 V Range | 1.15–1.25 V |
| VCCQ 1.8 V Range | 1.70–1.95 V |
| Test Range Settings | Jumlah starting block, interval antar-block, jumlah siklus, waktu pengujian, dan parameter lainnya dapat diatur secara individual |
| Supported Test Patterns | All 0, All 1, All 5, pseudo-random, checkerboard, word-line random, dan lainnya |
| Flash Memory Information Inspection | Didukung |
| Flash Memory Performance Testing | Didukung |
| Life Testing & Prediction | Didukung |
| Quality Class Classification | Didukung |
| Data Interference Testing | Didukung |
| Data Retention Testing | Didukung |
| Read-Retry Functionality | Didukung |
| Lifetime Testing & Prediction | Didukung |
| ECC Customization | Didukung |
