Aplikasi:
TG110 mengukur ketebalan bahan non-magnetik (seperti cat, plastik, email porselen, tembaga, seng, aluminium, krom, dll.) pada bahan magnetik (seperti besi, nikel, dll.). Sering digunakan untuk mengukur ketebalan lapisan galvanis, lapisan pernis, lapisan email porselen, lapisan fosfat, pelat tembaga, pelat aluminium, beberapa pelat paduan, kertas, dan lainnya.
Fitur Utama:
Probe Eksternal Serbaguna: Dengan probe eksternal yang berbeda, alat ukur ini dapat diaplikasikan untuk mengukur ketebalan lapisan non-magnetik pada substrat logam magnetik, serta lapisan non-konduktif pada substrat logam non-magnetik.
Dua Mode Pengukuran: Mode tunggal (single) atau berkelanjutan (continuous), dapat diubah dengan mudah.
Dua Mode Kerja: Mode langsung (direct) atau grup (group), dapat diubah sesuai kebutuhan.
Mode Presisi Tinggi: Menggunakan beberapa pengukuran dan metode penyaringan data otomatis untuk mengurangi gangguan pada hasil pengukuran.
Kompensasi Suhu: Mengompensasi distorsi pengukuran yang disebabkan oleh pergeseran suhu.
Analisis Statistik Lengkap: Memberikan 5 nilai statistik: Rata-rata (Average), Maksimum (Maximum), Minimum (Minimum), Jumlah Pengukuran (Measure Number), dan Standar Deviasi (Standard Deviation).
Metode Kalibrasi Ganda: Dua metode kalibrasi dapat diterapkan pada alat; kesalahan sistem pada probe dapat dikoreksi menggunakan metode kalibrasi probe dasar.
Penyimpanan Data: Kapasitas penyimpanan hingga 500 data pengukuran.
Pengaturan Batas (Boundary): Alarm berbunyi saat hasil pengukuran keluar dari batas toleransi.
Indikator Baterai: Menampilkan sisa kapasitas daya baterai.
Pemberitahuan Suara: Dilengkapi bunyi beep (Beep prompting).
Fungsi Mati Otomatis: Menghemat masa pakai baterai saat tidak digunakan.
Prinsip Pengukuran
Alat ukur ini mengadopsi dua metode pengukuran ketebalan: metode induksi magnetik dan metode arus eddy (eddy current).
Metode Induksi Magnetik: Probe dan substrat logam magnetik akan membentuk sirkuit magnetik tertutup saat probe bersentuhan dengan lapisan; resistansi magnetik dari sirkuit tertutup tersebut bervariasi karena adanya lapisan non-magnetik. Ketebalan lapisan dapat diukur melalui variasi resistansi magnetik tersebut.
Metode Arus Eddy: Arus bolak-balik frekuensi tinggi menghasilkan medan elektromagnetik di dalam kumparan probe; arus eddy akan terbentuk pada substrat logam ketika probe bersentuhan dengan lapisan, dan arus eddy tersebut memiliki efek umpan balik pada kumparan di dalam probe. Ketebalan lapisan dapat dihitung dengan mengukur efek umpan balik tersebut.
Cakupan Aplikasi Berdasarkan Probe:
Probe -F: Bekerja berdasarkan prinsip induksi magnetik dan harus digunakan untuk lapisan non-magnetik seperti aluminium, krom, tembaga, seng, cat dan pernis, email, karet, dll., pada substrat besi atau baja; juga cocok untuk baja magnetik paduan dan yang telah melalui proses pengerasan.
Probe -N: Bekerja berdasarkan prinsip arus eddy dan harus digunakan untuk lapisan insulasi pada semua logam non-besi serta baja tahan karat austenitik (austenitic stainless steels), seperti cat, lapisan anodisasi, keramik, dll., yang diaplikasikan pada aluminium, tembaga, die-casting seng,kuningan, dll.
Parameter Teknis
Rentang Ukur & Akurasi: (Lihat Tabel Parameter Teknis di bawah)
Lingkungan Kerja:
Suhu: 0°C ~ 40°C
Kelembapan: 20%RH ~ 90%RH
Tanpa medan magnet yang kuat
Daya: 2 * Baterai lithium isi ulang 3.7V (atau 1 * CR123A 3V sesuai konfigurasi)
Dimensi & Berat:
Ukuran: 198 mm × 82 mm × 30 mm
Berat: Sekitar 320 gram
Lampiran Tabel 1: Parameter Teknis
| Parameter / Kondisi | Probe Tipe F (Induksi Magnetik) | Probe Tipe N (Arus Eddy) |
| Rentang Ukur | 0 ~ 1500 µm | 0 ~ 1500 µm |
| Resolusi Rentang Rendah | 0.1 µm | 0.1 µm |
| Akurasi Kalibrasi Nol | $\pm(2\%H+1)$ µm | $\pm(2\%H+1)$ µm |
| Akurasi Kalibrasi Dua Titik | $\pm[(1\sim2)\%H+1]$ µm | $\pm[(1\sim2)\%H+1]$ µm |
| Min. Radius Kelengkungan | Cembung (Cx.) 1.5 mm | Cembung (Cx.) 3 mm |
| Min. Radius Area | $\Phi7$ mm | $\Phi5$ mm |
| Ketebalan Kritis Plat | 0.5 mm | 0.3 mm |
Catatan: H adalah nilai nominal ketebalan.
Lampiran Tabel 2: Referensi Pemilihan Probe
| Pelat / Substrat | Lapisan Non-Magnetik Bahan Organik(Cat, email, plastik, anodisasi, dll.) | Lapisan Non-Magnetik Logam Non-Ferrous(Krom, seng, aluminium, tembaga, timah, perak, dll.) |
| Logam Magnetik (Besi & Baja) | Probe Tipe F Rentang Ukur: 0 µm ~ 1500 µm | Probe Tipe F Rentang Ukur: 0 µm ~ 1500 µm |
| Logam Non-Ferrous (Tembaga, Aluminium, Kuningan, Seng, Timah, dll.) | Probe Tipe N Rentang Ukur: 0 µm ~ 1500 µm | Probe Tipe N Rentang Ukur: 0 µm ~ 40 µm (khusus untuk Krom pada Tembaga) |
Konfigurasi Produk (Kelengkapan Box)
| Item | Kuantitas | Keterangan |
| Unit Utama TG110 | 1 Unit | – |
| Probe | 1 Buah | Tipe F, N, atau FN |
| Foils Kalibrasi | 5 Lembar | – |
| Pelat Nol (Zero Plate) | 1 Buah | Besi atau Aluminium |
| Baterai | 1 Buah | CR123A, 3V |
| Panduan Pengguna (User Manual) | 1 Buah | – |
| Sertifikat | 1 Buah | – |
| Kartu Garansi | 1 Buah | – |
| Formulir Masukan (Feedback) | 1 Buah | – |
