Crack meter adalah alat yang digunakan untuk mengukur perpindahan atau pergeseran pada retakan tarik, serta dalam pemantauan stabilitas lereng. Alat ini sangat penting dalam aplikasi geoteknik untuk mendeteksi pergerakan tanah atau struktur secara akurat. Penggunaan crack meter membantu dalam menganalisis risiko longsor dan kestabilan lereng secara menyeluruh.
Seri CMP Crack Meter memainkan peran penting dalam sistem pemantauan lereng kami. Alat ini dirancang untuk mengukur perpindahan atau pergerakan diferensial secara akurat pada retakan tarik dan lereng yang tidak stabil.
Sistem ini memberikan peringatan waktu nyata (real-time) saat terdeteksi pergerakan abnormal, memungkinkan tim operasi mengambil keputusan penting—baik untuk melanjutkan aktivitas penambangan di area tersebut atau berpindah demi menjaga keselamatan personel dan aset berharga.
Dengan crack meter CMP, pemantauan lereng menjadi lebih andal dan responsif terhadap potensi bahaya geoteknik.
d-Piezo dari YieldPoint adalah piezometer digital yang mengintegrasikan transduser MEMS dan mikrokontroler internal, menghadirkan solusi pemantauan tekanan air dan kedalaman air tanah yang tangguh dan akurat.
Deskripsi PROFIL
PROFIL digunakan untuk memantau deformasi bawah permukaan tanah pada area longsor, timbunan tanah, bendungan, serta di sekitar gali dalam dan terowongan.
Instrumen ini sangat ideal untuk aplikasi geoteknik yang memerlukan pemantauan pergerakan horizontal dan vertikal di kedalaman tanah, membantu insinyur dalam mengevaluasi stabilitas lereng dan struktur bawah tanah secara akurat.
d-Tilt-el Series – Tiltmeter Dual-Axis untuk Instalasi Semi-Permanen
Seri d-Tilt-el adalah tiltmeter dengan dua sumbu yang dirancang khusus untuk instalasi semi-permanen, baik di dalam lubang bor (borehole) maupun pada permukaan.
Pengujian kompresi biaxial pada sampel inti batuan (core sample) biasanya dilakukan pada inti hasil over-coring dari sel HI (Hollow Inclusion). Sampel inti dikompresi menggunakan alat uji kompresi biaxial yang lebih dikenal sebagai Hoek Cell.