Probe Opsional dan Panduan Spesifikasi untuk Coating Thickness Gauge
| Model Probe | F400 | F1 | F1/90° | F10 | N1 | CN02 |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Prinsip Pengukuran | Induksi Magnetik | Induksi Magnetik | Induksi Magnetik | Induksi Magnetik | Arus Eddy | Arus Eddy |
| Rentang Pengukuran (μm) | 0–400 | 0–1250 | 0–1250 | 0–10000 | 0–1250 μm0–40 μm (untuk pelapisan krom pada tembaga) | 10–200 |
| Resolusi pada Rentang Rendah (μm) | 0,1 | 0,1 | 0,1 | 10 | 0,1 | 1 |
| Akurasi Kalibrasi 1 Titik (μm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1,5) | ±(3%H+1) |
| Akurasi Kalibrasi 2 Titik (μm) | ±[(1–3)%H+0,7] | ±[(1–3)%H+1] | ±[(1–3)%H+1] | ±[(1–3)%H+10] | ±[(1–3)%H+1,5] | – |
| Radius Minimum Permukaan | Cembung 1 mm | Cembung 1,5 mm | Datar | Cembung 10 mm | Cembung 3 mm | Datar |
| Diameter Minimum Area Ukur (mm) | Ø3 | Ø7 | Ø7 | Ø40 | Ø5 | Ø7 |
| Ketebalan Minimum Substrat (mm) | 0,2 | 0,5 | 0,5 | 2 | 0,3 | Tidak terbatas |
Keterangan:
- H = Ketebalan benda uji yang diukur.
- Probe F-Series menggunakan metode Induksi Magnetik untuk pengukuran pada material ferrous (logam besi).
- Probe N-Series dan CN02 menggunakan metode Arus Eddy (Eddy Current) untuk pengukuran pada material non-ferrous (logam non-besi).
Tabel Referensi Pemilihan Probe
