Deskripsi:
Dilengkapi dengan probe terpisah (separate probe).
Fungsi:
TG-2100F (substrat ferrous/besi)
TG-2100NF (substrat non-ferrous/bukan besi)
TG-2100FN (2 in 1, tipe F & NF)
Prinsip Operasi: Induksi magnetik / arus eddy (magnetic induction / eddy current – F/NF)
Rentang Pengukuran: Ferrous (F): $0 – 2000$ $\mu\text{m}$, Non-ferrous (NF): $0 – 2000$ $\mu\text{m}$
Resolusi: 0,1 / 1
Akurasi: $\pm 1 – 3\%n$ atau $\pm 2,5$ $\mu\text{m}$
Area Pengukuran Min.: 6 mm
Ketebalan Sampel Min.: 0,3 mm
Indikator Baterai: Indikator baterai lemah (low battery indicator)
Metrik / Imperial: Dapat dikonversi (convertible)
Catu Daya: 4 buah baterai AAA (UM-4) 1,5V
Mati Otomatis: Auto power off
Kondisi Pengoperasian: $0 – +45^\circ\text{C}$ ($32^\circ\text{F} – 104^\circ\text{F}$), kelembapan $\le 90\%\text{RH}$
Dimensi: $126 \times 65 \times 27$ mm
Berat: 81 g (tidak termasuk baterai)
Aksesori Opsional: Rentang lain tersedia dari $0 – 2000$ $\mu\text{m}$ hingga $18000$ $\mu\text{m}$
Aplikasi:
Pengukur ketebalan lapisan TG-2100F dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis non-magnetik (aluminium, krom, tembaga, enamel, karet, cat) pada substrat magnetik (baja, besi, paduan, dan baja tahan karat magnetik).
Pengukur ketebalan lapisan TG-2100NF dapat mengukur ketebalan lapisan pelapis non-konduktif (enamel, karet, cat, vernis, lapisan oksida anodik plastik) yang menutupi substrat non-ferrous (aluminium, kuningan, seng, timah, dan baja tahan karat non-magnetik).
Kelengkapan Standar (Standard Delivery) Pengukur Ketebalan Lapisan TG-2100FN:
1 pc Unit utama (2000 $\mu\text{m}$)
1 pc Probe tipe F
1 pc Probe tipe N
1 set Basis kalibrasi F (F calibration base set)
1 set Basis kalibrasi N (N calibration base set)
1 set Foil kalibrasi (Calibration foil set – berisi 4 foil)
1 pc Tas penyimpanan (Carrying case)
1 pc Buku petunjuk pengoperasian (Instruction manual)
Aksesori Opsional Pengukur Ketebalan Lapisan TG-2100FN:
Kabel dan perangkat lunak untuk RS-232C
Rentang pengujian yang dapat disesuaikan (Customized testing range)
