Deskripsi & Spesifikasi Umum:
Fungsi Varian:
TG-8825F: Khusus substrat besi (ferrous substrate)
TG-8825N: Khusus substrat non-besi (non-ferrous substrate)
TG-8825FN: Dual fungsi 2-in-1 (Tipe F & NF)
Prinsip Pengukuran: Induksi magnetik & arus eddy (magnetic induction & eddy current)
Rentang Ukur: 0 ~ 1250 µm (menggunakan probe terintegrasi / in-built probe)
Resolusi: 0.1 µm (di bawah 100 µm) | 1 µm (di atas 100 µm)
Akurasi: $\pm 1 \sim 3\%n$ atau $\pm 3$ µm
Pengenalan Tipe Probe: Manual (khusus untuk model TG-8825FN)
Mode Pengukuran: Tunggal (single)
Output Data: Antarmuka RS232C (opsional)
Catu Daya: 4 baterai 1.5V AAA (UM-4)
Mode Pemadaman (Shutdown): Manual / Otomatis
Dimensi: 131 × 65 × 28 mm
Aplikasi Penggunaan:
Huatec TG-8825F: Dapat mengukur ketebalan lapisan non-magnetik (seperti aluminium, krom, tembaga, enamel, karet, cat) pada substrat logam magnetik (seperti baja, besi, paduan, dan baja tahan karat magnetik).
Huatec TG-8825N: Dapat mengukur ketebalan lapisan non-konduktif (seperti enamel, karet, cat, pernis, plastik, lapisan oksida anodik) yang melapisi substrat non-besi (seperti aluminium, kuningan, seng, timah, dan baja tahan karat non-magnetik).
Pengiriman Standar (Standard Delivery) Huatec TG-8825FN:
Unit Utama (1250 µm): 1 Buah
Probe Tipe F: 1 Buah
Probe Tipe N: 1 Buah
Set Basis Kalibrasi F: 1 Buah
Set Basis Kalibrasi N: 1 Buah
Set Foil Kalibrasi: 1 Set (4 lembar foil)
Tas Penyimpanan (Carrying Case): 1 Buah
Buku Petunjuk Penggunaan (Instruction Manual): 1 Buah
Aksesori Opsional (Optional Accessories):
Kabel dan perangkat lunak (software) untuk RS-232C dan/atau USB
